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断差测量显微镜

 Hisomet DH II高精度三次元工具显微镜

X、Y、Z三轴精密量测,Z轴量测精度可达±1μm光学非接触式,可避免破坏待测物。依客户需求,,搭配量测软体及其他配件。
 
特性:
Z轴量测超高精度±1μm。
Z轴光学式辅助对焦符号,的富降低人眼误差。
两种不同的对焦符号,可任意切换。
 
应用范围:
IC封装产业、机械产业、学术研究机构等需要高精度三次元量测的待测物(Sample)
 
技术参数:
 
UNION DCM双面对位测定显微镜
 
特性:
DCM系列独特的上、下双镜头设计,为双面对位量测所开发的非接触式光学量测仪器。
DCM可由目镜(或显示器)分别观看正面、背面及双面结合影像。
搭配精密的测量平台,可分别测量待测物(sample)的 正、反面的X、Y轴数据。
显示双面结合影像时可测量正、反面的对位差,精度高。
总和倍率由50倍至1000倍(上、下镜头倍率须相同)。
UNION THS 双面对焦厚度测定显微镜
     
Z轴光学辅助对焦符号,使操作人员有清楚准确的判断依据,减少人为误差大幅提升精度。
采用上,下镜头的单点测量,不会因待测物(sample)弯曲而造成测量的误差。
光学非接触的测量方式不会造成待测物(sample)的刮伤或变形。
总和倍率由50倍至2000倍(上、下镜头须相同)。
 UNION DZ高倍率显微镜
 
特性:
DZ-4 Zoom Ratio 12(0.83倍-10倍)
体积轻巧、最高倍率4200倍
高解析影像
广角物镜、大视野、检测无死角
同轴LED照明
UWZ 超长工作距变倍显微镜
            
特性:
超长工作空间,无工作阻碍。
可同时观察与工作,亦可将影像传输至电脑或其他显示器,并安装量测软体,作点、线、圆、角度等多功能量测。
放大倍率为30倍-420倍,工作距离最长可达285mm。
技术参数:
上海拓精工业测定仪器有限公司
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