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X-ray镀层测厚

         X射线镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。X射线荧光测试仪,可在微小样品上测量镀层厚度(包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等)和进行材料分析 。

X射线镀层厚度测量仪的特点

  • 用途广泛的镀层厚度测量仪,包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等。
  • 通过组合可选的高压和滤片,可以对较薄的镀层(如50 nm Au 或 100 μm Sn)和较厚的镀层进行同样效果的测量.
  • 配有的微聚焦管,可以测量100 μm大小的微小测量点。
  • 比例计数器可实现数千cps(每秒计数率)的高计数率。
  • 从下至上的射线方向,从而可以快速简便的放置样品。
  • 底部C型开槽的大容量测量舱 。

X射线镀层厚度测量仪典型应用领域

  • 测量线路板工业中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的镀层
  • 电子行业中接插件和触点上的镀层
  • 装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS
  • 电镀镀层,如大规模生产零件(螺栓和螺母)上的防腐蚀保护层Zn/Fe,ZnNi/Fe
  • 珠宝和钟表工业。
  • 测量电镀液中金属成分含量,例如金层测厚、银层测厚。
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