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X射线荧光分析仪

能量色散X射线荧光分析仪

FISCHERSCOPE X-RAY XUL和XULM系列正是每个电镀车间的基础设备。简单易用的能量色散X射线荧光分析仪非常适合监控镀液成分，但在质量控制方面也是不可或缺的帮手：坚固耐用，非常适合测量批量生产的零件（如螺母和螺栓）上的电镀层。

XUL/XULM系列的所有X射线光谱仪操作简单直观。较大的样品可以简单地手动放在测量室中；或者，对于较小的物品（例如插头），仪器可以配备手动样品台。尽管测量设备紧凑，但它们为您的试样提供了足够的空间-高度可达17厘米。

如果您有多种不同的测量任务，X射线XULM可互切换的过滤器和准直仪，因此您可以为应用创造测量条件。此外，XULM具有内置的微聚焦管，即使在测量点微小和镀层很薄的情况下也能提供精确的结果。

特点：

根据DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度；

XULM的最小测量点约0.1 mm；XUL最小测量点约0.5 mm；

钨X射线管或钨微聚焦管（XULM）作为X射线源；

采用经实践验证的短测量时间的比例接收器；

准直器：固定或4个自动切换；

初级过滤器：固定或3个自动切换；

固定样品台或手动XY载物台；

用于光学观察测量点的摄像头；

经认证的全面防护设计；

应用：

电镀层，例如铁上的锌或铁上的锌镍，用于大批量生产的零件（螺母和螺栓）的腐蚀防护；

电镀液中金属含量的分析；

装饰性涂层 Cr/Ni/Cu/ABS；

电子行业连接器和触点上的镀层。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN

和XUL系列一样，FISCHERSCOPE®X射线XAN®仪器适合分析简单形状的样品。然而，XAN系列的一大优势在于其半导体探测器。X射线荧光不仅可以测量镀层的厚度，还可以分析合金（例如铜）的成分。

XAN系列总共包括5款台式XRF光谱仪，涵盖广泛的应用范围。XAN215具有经济高效的PIN检测器。非常适合简单的镀层厚度任务，例如铁上的锌层或Au/Ni/Cu。对于更复杂的合金或贵金属应用，我们建议使用带有硅漂移检测器SDD的设备（例如XAN220）：由于其分辨率更高，可以可靠地区分金和铂。

特点：

根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析，镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光光谱仪；

高端半导体检测器（PIN和SDD）确保出色的检测精度和高分辨率；

XAN 250和252：用于测量铝，硅或硫之类的轻元素；

准直器：固定或4种可切换，最小测量点约为0.3mm

基本滤片：固定或6种可切换

固定样品支架或手动XY载物台

摄像头可轻松定位最佳测量位置

样品高度最多17厘米;

应用：

牙科合金的无损分析，银测试；

多层镀层测试；

电子和半导体行业中厚度为10nm以上的功能涂层的分析；

消费者保护中的痕量分析，例如测试玩具中的铅含量；

根据珠宝业和炼油厂最高精度要求测量金属合金含量。