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X射线荧光分析仪

能量色散X射线荧光分析仪
FISCHERSCOPE X-RAY XUL和XULM系列正是每个电镀车间的基础设备。简单易用的能量色散X射线荧光分析仪非常适合监控镀液成分,但在质量控制方面也是不可或缺的帮手:坚固耐用,非常适合测量批量生产的零件(如螺母和螺栓)上的电镀层 。
XUL/XULM系列的所有X射线光谱仪操作简单直观。较大的样品可以简单地手动放在测量室中;或者,对于较小的物品(例如插头),仪器可以配备手动样品台。尽管测量设备紧凑,但它们为您的试样提供了足够的空间-高度可达17厘米。
如果您有多种不同的测量任务,X射线XULM可互切换的过滤器和准直仪,因此您可以为应用创造测量条件。 此外,XULM具有内置的微聚焦管,即使在测量点微小和镀层很薄的情况下也能提供精确的结果。
 
特点
根据DIN ISO 3497和ASTM B 568,用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度
XULM的最小测量点约0.1 mm;XUL最小测量点约0.5 mm
钨X射线管或钨微聚焦管(XULM)作为X射线源;
采用经实践验证的短测量时间的比例接收器
准直器:固定或4个自动切换
初级过滤器:固定或3个自动切换
固定样品台或手动XY载物台
用于光学观察测量点的摄像头
经认证的全面防护设计;
应用
电镀层,例如铁上的锌或铁上的锌镍,用于大批量生产的零件(螺母和螺栓)的腐蚀防护
电镀液中金属含量的分析
装饰性涂层 Cr/Ni/Cu/ABS
电子行业连接器和触点上的镀层
 
FISCHERSCOPE X-RAY XAN
和XUL系列一样,FISCHERSCOPE®X射线XAN®仪器适合分析简单形状的样品。然而,XAN系列的一大优势在于其半导体探测器。X射线荧光不仅可以测量镀层的厚度,还可以分析合金(例如铜)的成分。
XAN系列总共包括5款台式XRF光谱仪,涵盖广泛的应用范围。XAN215具有经济高效的PIN检测器。非常适合简单的镀层厚度任务,例如铁上的锌层或Au/Ni/Cu。对于更复杂的合金或贵金属应用,我们建议使用带有硅漂移检测器SDD的设备(例如XAN220):由于其分辨率更高,可以可靠地区分金和铂。
 
特点
根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析,镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光光谱仪
高端半导体检测器(PIN和SDD) 确保出色的检测精度和高分辨率
XAN 250和252:用于测量铝,硅或硫之类的轻元素;
准直器:固定或4种可切换,最小测量点约为0.3mm
基本滤片:固定或6种可切换
固定样品支架或手动XY载物台
摄像头可轻松定位最佳测量位置
样品高度最多17厘米;
应用
牙科合金的无损分析,银测试
多层镀层测试
电子和半导体行业中厚度为10nm以上的功能涂层的分析
消费者保护中的痕量分析,例如测试玩具中的铅含量
根据珠宝业和炼油厂最高精度要求测量金属合金含量
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