400-622-8880
您当前的位置:首页 > ZEISS MICURA

产品中心

工业CT/X射线机
- ZEISS Metrotom - Metrotom 1500 - ZEISS VoluMax
三坐标测量机
- ZEISS Spectrum - ZEISS DuraMax - ZEISS Contura - ZEISS PRISMO - ZEISS MICURA - ZEISS MMZ T - ZEISS MMZ G - ZEISS CALENO - ZEISS Xenos - Equator比对仪 - 便携式扫描臂 - 三坐标测头维修 - 关节臂三坐标
3D扫描测量系统
- GOM Scan 1 - T-SCAN hawk - T-SCAN LV - ATOS Q
激光跟踪测量系统
- Leica AT500 - Leica AT930 - 激光干涉仪
形状轮廓测定
- 齿轮测量仪 - 一体式粗糙轮廓仪 - 粗糙度轮廓仪 - 轮廓测量仪 - 粗糙度测量仪 - 圆柱度/圆度测量仪
光学测定仪器
- 光学测量机 - 一键式快速测量仪 - 二次元影像测量仪 - 轴类光学测量仪 - 刀具测量系统 - 油膜测厚仪 - 工业内窥镜 - 激光间隙面差仪
扫描电镜&光谱仪
- EVO扫描电镜 - 场发射扫描电镜 - 分析扫描电镜 - 多束扫描电镜 - 桌上扫描电镜 - 台式直读光谱仪 - 移动式直读光谱仪 - 光电直读光谱仪
显微测量及分析
- 超景深3D显微镜 - 共聚焦显微镜 - 金相显微镜 - 体视/变倍显微镜 - 关联显微镜技术 - 大尺寸检测显微镜
高速摄像机
- 一体式高速摄像机 - 分离式高速摄像机 - 迷你型高速摄像机 - 超长记录高速像机 - 高速摄像机
清洁度检测解决方案
- JOMESA清洁度检测系统 - 清洁度检测系统(高配型) - 清洁度检测系统(高倍型) - 清洁度检测系统(低倍型) - 清洁度颗粒萃取(全自动型) - 清洁度颗粒萃取(半自动型) - 清洁度颗粒萃取(双工位型) - 清洁度升级改造 - 清洁度实验室规划

ZEISS MICURA

ZEISS MICURA
小型工件的高精度
蔡司MICURA
特点
工业生产中的零部件日趋小型化,同时对测量精度的要求也在不断提高,蔡司MICURA正是针对这一全新需求定制的解决方案。
好处
计算机辅助精度:自动补偿由于动态引起的惯性效应而产生的测量误差
四侧蔡司空气轴承保证稳定性和精度
ZEISS MICURA还配备了两个工件温度传感器
传感器的探测力是主动调节的并且非常低 - 非常适合敏感材料
蔡司的协调控制技术、软件、传感器和附加组件
主动减振器作为地板振动过滤的标准配置。
小型化与高精度
工业生产中的零部件日趋小型化,同时对测量精度的要求也在不断提高,MICURA正是针对这一全新需求定制的解决方案。MICURA采用蔡司VAST XT gold扫描探头与navigator技术, 可在主动式扫描时获得微米级的测量精度。它尤其适于测量用于光学和电子产品的结构复杂的小型工件。尽管采用紧凑型设计,系统却具备500 x 500 x 500毫米的测量能力——性能远超同类产品。
精准的高速扫描
蔡司VAST XT gold探头具有高速扫描功能,除可在极短时间测定几何特征外,还可精准测量及评定形状误差如圆度、平面度等特性。探针最小直径仅为0.3毫米。
自动测量速度
蔡司MICURA采用VAST navigator技术。该技术可在确保测量精度的前提下自动调节理想的测量速度,从而显著缩短测量时间。在测量精度要求较高的区域,蔡司MICURA的移动速度放缓。当轮廓简单或精度需求较低时,移动的速度更快。
VAST navigator技术还通过切线逼近扫描、螺旋扫描和测针快速动态校准等功能进一步缩短测量时间。
蔡司转台带来更大灵活性
灵活的蔡司 RT-RB 100-1 转台可根据需要作为附加型号安装在测量区域中,然后再次方便地移出测量区域。该选项可实现四轴测量 - 并且全部在一台机器上进行。
上海拓精工业测定仪器有限公司
全国免费电话:400-622-8880
电话:021-64938020/64938021
传真:021-64933725
邮箱:jackli@exploitpr.com
2015 上海拓精工业测定仪器有限公司 www.exploitpr.com保留所有权 营业执照号 91310114779323574W 沪ICP备15031196号-1