产品中心
- 工业CT/X射线机
- - ZEISS Metrotom - Metrotom 1500 - ZEISS VoluMax - 微焦X射线设备 - X射线荧光分析仪 - X射线无损探伤
- 三坐标测量机
- - ZEISS Spectrum - ZEISS DuraMax - ZEISS Contura - ZEISS Xenos - Equator比对仪 - 便携式扫描臂 - 关节臂三坐标 - 三坐标测头维修
- 3D扫描测量系统
- - GOM Scan 1 - T-SCAN hawk - T-SCAN LV - ATOS Q
- 激光跟踪测量系统
- - Leica AT500 - Leica AT930 - 激光干涉仪
- 形状轮廓测定
- - 一体式粗糙轮廓仪 - 粗糙度轮廓仪 - 轮廓测量仪 - 粗糙度测量仪 - 圆度圆柱度测量仪 - 圆柱度仪 - 齿轮测量仪
- 光学测定仪器
- - 光学测量机 - 一键式快速测量仪 - 二次元影像测量仪 - 轴类光学测量仪 - 刀具测量系统 - 油膜测厚仪 - 工业内窥镜
- 扫描电镜&光谱仪
- - EVO扫描电镜 - 场发射扫描电镜 - 分析扫描电镜 - 多束扫描电镜 - 桌上扫描电镜 - 台式直读光谱仪 - 移动式直读光谱仪 - 光电直读光谱仪
- 显微测量及分析
- - 超景深3D显微镜 - 共聚焦显微镜 - 光学显微镜 - 金相显微镜 - 工具显微镜 - 断差测量显微镜 - 晶圆检查显微镜
- 高速摄像机
- - 一体式高速摄像机 - 分离式高速摄像机 - 迷你型高速摄像机 - 超长记录高速像机 - 高速摄像机
- 清洁度检测解决方案
- - 清洁度检测系统(高配型) - 清洁度检测系统(高倍型) - 清洁度检测系统(低倍型) - 清洁度颗粒萃取(全自动型) - 清洁度颗粒萃取(半自动型) - 清洁度颗粒萃取(双工位型) - 清洁度升级改造 - 清洁度实验室规划
光学显微镜
光学显微镜具备明暗场、微分干涉、偏光等多种观察功能。最大支持 300mm 晶圆及 17英寸液晶面板的检查,含 4、6、8、12英寸多种转盘,可适用不同尺寸的晶圆检查。人机工程学设计全面提升,为用户提供更加舒适、灵活、快捷的操作体验。可广泛应用于半导体、PCB、LCD、手机产业链、光通讯、基础电子、模具五金、医疗器械、汽车行业、计量行业等领域的检测。







光学系统
|
无限远色差校正光学系统
|
观察头
|
三目观察筒 ,45°倾斜 , 铰链组可 360°旋转 , 固定式目镜筒 , 瞳距调节范围 50-75mm, 两档式分光比 :双目 : 三目 =100 :0 或 0 :100
|
目镜
|
高眼点大视野平场目镜 PL10X/22mm, 视度可调,可带测微尺
|
|
高眼点大视野平场目镜 PL15X/16mm, 视度可调
|
物镜
|
无限远长工作距平场消色差金相物镜 5X、10X、20X、50X、100X
|
|
无限远长工作距平场明暗场消色差金相物镜 5X、10X、20X、50X、100X
|
物镜转换器
|
内定位 5 孔明场转换器(带 DIC 插槽),内置倍率传感器
|
|
内定位 5 孔明暗场转换器(带 DIC 插槽),内置倍率传感器
|
机架
|
反射明暗场金相机架 , 采用低手位粗微调同轴 , 粗调行程 9mm, 焦面向上 6.5mm, 向下 2.5mm, 微调精度 0.002mm, 带有防止下滑的松紧调节手轮
|
|
带明暗场切换装置 , 带可变视场光阑、孔径光阑,中心均可调;带滤色片插槽与偏光装置插槽 , 带灯源亮度指示条,带红外感应和物镜倍率显示功能
|
照明系统
|
采用外置式宽电压变压器 , 输入 100-240V, 输出 15V13.4A, 亮度连续可调
|
载物台
|
三层机械移动平台,平台尺寸 :240(W)×250(L),移动范围 50×50mm,双向线轨传动,右手低手位控制
|
摄影摄像附件
|
0.35X、0.5X、0.65X、1X,C 型接口,可调焦
|
其他
|
起偏镜插板,固定式检偏镜插板,360°旋转式检偏镜插板 ; DIC 微分干涉组件 ;滤色片组 ;高精度测微尺
|