400-622-8880
您当前的位置:首页 > T-SCAN LV

产品中心

工业CT/X射线机
- ZEISS Metrotom - Metrotom 1500 - ZEISS VoluMax
三坐标测量机
- ZEISS Spectrum - ZEISS DuraMax - ZEISS Contura - ZEISS PRISMO - ZEISS MICURA - ZEISS MMZ T - ZEISS MMZ G - ZEISS CALENO - ZEISS Xenos - Equator比对仪 - 便携式扫描臂 - 三坐标测头维修 - 关节臂三坐标
3D扫描测量系统
- GOM Scan 1 - T-SCAN hawk - T-SCAN LV - ATOS Q
激光跟踪测量系统
- Leica AT500 - Leica AT930 - 激光干涉仪
形状轮廓测定
- 齿轮测量仪 - 一体式粗糙轮廓仪 - 粗糙度轮廓仪 - 轮廓测量仪 - 粗糙度测量仪 - 圆柱度/圆度测量仪
光学测定仪器
- 光学测量机 - 一键式快速测量仪 - 二次元影像测量仪 - 轴类光学测量仪 - 刀具测量系统 - 油膜测厚仪 - 工业内窥镜 - 激光间隙面差仪
扫描电镜&光谱仪
- EVO扫描电镜 - 场发射扫描电镜 - 分析扫描电镜 - 多束扫描电镜 - 桌上扫描电镜 - 台式直读光谱仪 - 移动式直读光谱仪 - 光电直读光谱仪
显微测量及分析
- 超景深3D显微镜 - 共聚焦显微镜 - 金相显微镜 - 体视/变倍显微镜 - 关联显微镜技术 - 大尺寸检测显微镜
高速摄像机
- 一体式高速摄像机 - 分离式高速摄像机 - 迷你型高速摄像机 - 超长记录高速像机 - 高速摄像机
清洁度检测解决方案
- JOMESA清洁度检测系统 - 清洁度检测系统(高配型) - 清洁度检测系统(高倍型) - 清洁度检测系统(低倍型) - 清洁度颗粒萃取(全自动型) - 清洁度颗粒萃取(半自动型) - 清洁度颗粒萃取(双工位型) - 清洁度升级改造 - 清洁度实验室规划

T-SCAN LV

蔡司T-SCAN LV

 

模块化,个性化的系统配置

T-SCAN LV  手持式扫描系统,采用模块化系统配置,与最新跟踪仪结合使用,为用户提供个性化的应用解决方案。 T-SCAN LV  手持式激光扫描头,手持更轻便, 可高效率应用于大尺寸工件的无疲劳测量。还有 T-POINT LV 测量光笔可供选择,用于进行高速,简便的单点测量。

测量范围大,测量精度高

T-SCAN LV /T-TRACK LV 手持式扫描系统与跟踪系统完美结合,提供超凡的测量范围,为用户提供三维数字化测量新体验。

采用该手持式扫描系统进行大数据工件测量,操作更简便,扫描速度更快。高达35 m3 的跟踪测量范围,使三维测量工作更高效,更灵活。

动态跟踪功能

使用T-SCAN LV系统的动态跟踪功能,可对动态工件进行高精度测量。该功能为用户在振动(如冲压车间)等苛刻的测量环境内进行测量提供极大便利。

多相机跟踪

跟踪仪采用多相机跟踪方式,为大工件提供多角度,多方位的数据获取可能,从而大大提高测量效率。

突出优点

• T-SCAN LV / T-TRACK LV创新的扫描头+跟踪仪+光笔一揽式手持式扫描系统具有以下突出优点

• 超大的测量范围

• 测量精度高

• 数据获取速度高

• 现场校准功能

• 动态跟踪测量功能

应用领域

U-SCAN LV / T-TRACK LV 手持式扫描系统可应用于各种尺寸的工件测量上。超大的测量范围,尤其适用于大尺寸工件的高速测量。(如整车,生产线,农用设备,以及金属制造/焊接工艺等),凭借大测量范围的突出优点,该系统还适用于以下多种不同领域的高效测量应用:

 质量控制/检测
设计
快速成型
逆向工程
模具生产

 

上海拓精工业测定仪器有限公司
全国免费电话:400-622-8880
电话:021-64938020/64938021
传真:021-64933725
邮箱:jackli@exploitpr.com
2015 上海拓精工业测定仪器有限公司 www.exploitpr.com保留所有权 营业执照号 91310114779323574W 沪ICP备15031196号-1